一种荧光点计数方法和装置

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一种荧光点计数方法和装置
申请号:CN202510261239
申请日期:2025-03-06
公开号:CN120182215B
公开日期:2025-08-19
类型:发明专利
摘要
本申请提供一种荧光点计数方法和装置。本申请提供的方法包括:根据荧光点面积筛选所述荧光点图像,得到最优对焦图像;对最优对焦图像以及其前后各N张图像进行图像融合处理,得到综合图像;对综合图像进行二次图像处理,增强综合图像中待检测样本对应的荧光点特征,得到结果图像,并根据结果图像中的荧光点轮廓面积对结果图像进行分类,得到分类结果;根据分类结果和荧光点轮廓面积筛选结果图像中的荧光点,得到增强图像;遍历增强图像中所有荧光点,根据每个荧光点的颜色对增强图像中的荧光点进行筛选,得到优化图像;对优化图像进行荧光点计数。本申请提供的荧光点计数方法和装置,能够对荧光点实现精准计数,提高荧光点计数准确率。
技术关键词
荧光 轮廓面积 计数方法 图像处理 像素点 拍摄模块 试剂仓 颜色 样本管架 二值化图像 气泡 计数装置 粗糙度 索引 芯片 样本架
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