一种大规模集成电路版图内间距检查的方法

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一种大规模集成电路版图内间距检查的方法
申请号:CN202510263859
申请日期:2025-03-06
公开号:CN120181034A
公开日期:2025-06-20
类型:发明专利
摘要
本发明涉及一种大规模集成电路版图内间距检查的方法,属于集成电路计算机辅助设计技术领域,其包括:S1.将待处理的集成电路版图按照预设划分规则划分为若干局部版图,其包括原始局部版图和干涉局部版图;将这些干涉局部版图的由预设划分规则确定的边缘开始按照向外扩展,以得到扩展局部版图;S2.按照当前选定的预设检查规则逐个地检查全部局部版图内的所有功能部件的边是否满足相应所选预设检查规则所对应的约束条件上限,以筛选出符合潜在条件的边;S3.组成关联边对,将这些关联边对经过过滤器的筛选,以得到满足过滤条件的关联边对;S4.按各满足过滤条件的关联边对的裁剪范围对这些关联边对进行二次裁剪。
技术关键词
检查规则 集成电路版图 过滤器 间距 测量方法 多边形 数据 复杂度 阶段 关系 轮廓 算法 物理 密度 资源 矩形
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