用于内镜黏膜下剥离术的黏膜下层多点厚度测量方法

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正文
推荐专利
用于内镜黏膜下剥离术的黏膜下层多点厚度测量方法
申请号:CN202510265421
申请日期:2025-03-06
公开号:CN119784811B
公开日期:2025-08-05
类型:发明专利
摘要
本申请公开了一种用于内镜黏膜下剥离术的黏膜下层多点厚度测量方法,其包括以下步骤:采集图像:获取由内镜黏膜下剥离术切割的病理图像;图像预处理:提升病理图像的亮度以及亮部对比度,并通过高斯滤波对病理图像进行平滑处理;图像特征提取:提取病理图像的纹理特征,使用局部二值模式(LBP)算法,并生成与所述病理图像尺寸相同的纵坐标特征图;特征融合:将预处理得到的降噪图像、纹理特征图像以及纵坐标特征图叠加;黏膜下层病理组织分割:使用UNet神经网络对叠合图像进行图像分割任务的训练;多点厚度计算;质量评估。本申请通过病理组织图像进行黏膜下层厚度的测量,有助于(ESD)的效果判定与手术质量控制。
技术关键词
厚度测量方法 内镜黏膜下剥离术 纹理特征 图像分割 空洞 卷积模块 局部二值模式 LBP算法 图像特征提取 对比度 纵向位置信息 图像像素 滤波 随机梯度下降 亮度 直方图 上采样 图像还原
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