eMCP芯片老化测试装置及其测试方法

本申请提出一种eMCP芯片老化测试装置及其测试方法，设置了分别与eMMC部分和LPDDR部分通信连接的嵌入式系统主机，首先，确定目标测试场景，根据目标测试场景确定目标测试性能参数；嵌入式系统主机根据目标测试性能参数对LPDDR部分进行测试操作，将LPDDR部分的第一测试结果存储至数据库或者外置存储器；eMMC控制器根据目标测试性能参数对Nand Flash进行测试操作，得到eMMC部分的第二测试结果；在测试操作过程中，嵌入式系统主机将第一测试结果发送至eMMC控制器，eMMC控制器对第一测试结果和第二测试结果进行整合，将整合测试结果写入至Nand Flash。本申请能够直观体现eMCP产品的测试结果，利于后续产品测试结果的跟踪，并且还能够降低分Bin成本，降低老化测试对产品寿命的影响。