激光扫描成像方法、装置、激光成像设备、系统和介质

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激光扫描成像方法、装置、激光成像设备、系统和介质
申请号:CN202510271195
申请日期:2025-03-07
公开号:CN120369708A
公开日期:2025-07-25
类型:发明专利
摘要
本发明提供一种激光扫描成像方法、装置、激光成像设备、系统和介质,涉及光学成像技术领域,包括获取初始光束,并将初始光束划分为参考光束和探测光束;通过探测光束对待测物体进行扫描,并在扫描过程中动态调整探测光束,得到待测物体对应的扫描反射光束;其中,扫描反射光束为探测光束对待测物体不同角度进行全方位扫描的光束;对参考光束和扫描反射光束进行合束,得到光束干涉信号;根据光束干涉信号确定待测物体的激光扫描成像结果。本发明的技术方案,通过探测光束对待测物体进行扫描,并在扫描过程中使得探测光束对待测物体不同角度进行全方位扫描,从而得到对待测物体不同角度进行全方位扫描的扫描反射光束,提高待测物体的扫描精度。
技术关键词
激光扫描成像方法 光束 待测物体 激光成像设备 激光扫描成像系统 光学干涉仪 扫描成像器 反射结构 频谱分析仪 激光扫描仪 非暂态计算机可读存储介质 信号 扫描成像装置 光学成像技术 波长 激光器 芯片
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