一种缺陷样本生成方法和装置

本申请实施例提供一种缺陷样本生成方法和装置。在本申请实施例中，能够获取查询原图图像集和缺陷图像的提示小图图像集，以及基于所述提示小图图像集中的各提示小图，对所述查询原图图像集进行图像查询，获取所述查询原图图像集中各查询原图的缺陷图像的第一分割掩码和对应的缺陷类别；对所述查询原图图像集中各查询原图的缺陷图像的分割掩码进行膨胀操作，生成所述查询原图图像集中各查询原图的扩展后的缺陷图像的第二分割掩码；基于所述第一分割掩码和第二分割掩码中多个指定方向上均匀发射的多条射线确定的起点和终点，以及所述第二分割掩码，生成所述查询原图图像集中各查询原图对应的缺陷扩散编辑图像，以及基于所述查询原图图像集中各查询原图对应的缺陷扩散编辑图像和对应的缺陷类别，生成缺陷样本。