一种基于光学-磁学多模态融合的OLED屏幕缺陷检测方法

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一种基于光学-磁学多模态融合的OLED屏幕缺陷检测方法
申请号:CN202510277167
申请日期:2025-03-10
公开号:CN119780107B
公开日期:2025-05-09
类型:发明专利
摘要
本发明涉及缺陷检测技术领域,尤其涉及一种基于光学‑磁学多模态融合的OLED屏幕缺陷检测方法,包括如下步骤:S1:基于脉冲式电流驱动的同步激发与数据采集;S2:跨模态空间标定与噪声抑制;S3:偏振‑磁场耦合特征提取;S4:动态关联决策与闭环反馈,包括通过多模态数据的关联分析,实现缺陷的分级判定,通过电流过载测试,验证缺陷的真实性。本方法有效解决了现有技术中存在的环境光干扰、漏检、高成本、低分辨率等问题,具有显著的有益效果,能够提高检测准确性、效率和可靠性,满足大规模生产线的需求,并且能够高效定位和减少检测过程中的错误和冗余步骤。
技术关键词
屏幕缺陷检测方法 多模态 压电谐振器 耦合特征提取 噪声抑制 干涉条纹 OLED屏幕 裂纹 验证缺陷 跨模态 双锁相放大器 磁场畸变检测 泊松方程 传感器阵列 二级决策树 电流 光学变焦镜头 脏污
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