基于改进YOLO算法的电路板外观缺陷视觉识别方法及系统

本发明公开了一种基于改进YOLO算法的电路板外观缺陷视觉识别方法及系统，该方法包括步骤S1：收集包含电路板外观缺陷的图像数据集，对所述数据集进行标注和预处理；步骤S2：以YOLOv8n为基础算法进行改进，构建改进后的YOLO算法模型；步骤S3：使用预处理后的数据集对改进后的YOLO算法模型进行训练；步骤S4：将待检测的电路板图像输入到训练好的改进后的YOLO算法模型中进行检测，输出缺陷的位置和类别信息。本发明通过构建DSXConv模块和引入新型损失函数EAPIOU，增强了模型对微小缺陷和复杂形状缺陷的识别能力，提高了检测精度和效率。