一种基于自动化测试设备的片内RC振荡器校准方法

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一种基于自动化测试设备的片内RC振荡器校准方法
申请号:CN202510277270
申请日期:2025-03-10
公开号:CN120185553A
公开日期:2025-06-20
类型:发明专利
摘要
本申请提供了一种基于自动化测试设备的片内RC振荡器校准方法,该方法包括:通过建立自动化测试设备与目标芯片的通信,发送校准数据使目标芯片更新RC振荡器参数,接收并测试振荡信号,调整校准数据直至振荡信号频率接近基准频率,最终确定目标校准数据并写入目标芯片。本申请能够提高校准效率。
技术关键词
自动化测试设备 振荡器校准 RC振荡器 芯片 信号 频率 基准 机器可读指令 GPIO接口 JTAG接口 数据更新 处理器 可读存储介质 参数 时钟 电子设备 程序 数据存储
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