一种基于自动化测试设备的片内RC振荡器校准方法
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一种基于自动化测试设备的片内RC振荡器校准方法
申请号:
CN202510277270
申请日期:
2025-03-10
公开号:
CN120185553A
公开日期:
2025-06-20
类型:
发明专利
摘要
本申请提供了一种基于自动化测试设备的片内RC振荡器校准方法,该方法包括:通过建立自动化测试设备与目标芯片的通信,发送校准数据使目标芯片更新RC振荡器参数,接收并测试振荡信号,调整校准数据直至振荡信号频率接近基准频率,最终确定目标校准数据并写入目标芯片。本申请能够提高校准效率。
技术关键词
自动化测试设备
振荡器校准
RC振荡器
芯片
信号
频率
基准
机器可读指令
GPIO接口
JTAG接口
数据更新
处理器
可读存储介质
参数
时钟
电子设备
程序
数据存储
沪ICP备2023015588号