一种用于微波检测结果评估的差值分析方法

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一种用于微波检测结果评估的差值分析方法
申请号:CN202510277883
申请日期:2025-03-10
公开号:CN120334253A
公开日期:2025-07-18
类型:发明专利
摘要
一种用于微波检测结果评估的差值分析方法,包括:对无缺陷样品进行微波检测,得到基准S参数;对待测样品进行微波检测,并得到相同类型的S参数;对得到的两组S参数进行小波变换去噪处理,以消除局部波动点对计算的影响;对两组去噪处理S参数进行均方差MSE计算;根据均方差MSE的值,对待测样品缺陷情况进行评估;均方差MSE值越大,表明待测样品相比于基准缺陷样品,二者S参数差别越大,即可说明待测样品的缺陷程度越高。继续检测其余待测样品并进行检测与差值分析,完成其缺陷评估。利用本发明提出的差值分析发进行缺陷评估,无需对频段进行人工选取,默认整体频段即可,大大降低了检测复杂度。
技术关键词
分析方法 微波 离散小波变换 小波变换去噪 Mallat算法 发射天线 检测S参数 高通滤波器 基准 频段 信号 采样点 复杂度 序列 幅值 数据 曲线
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