摘要
本发明涉及晶体材料识别领域,具体公开一种钽锂红外精准识别系统,所述数据采集单元:通过红外光谱仪进行背景扫描得到背景光谱,然后对钽锂样品进行扫描得到初始光谱,初始光源扣除背景光谱得到校正光谱;通过校正光谱,消除环境中的H2O和CO2的吸收峰;所述数据预处理:对校正光谱进行去除基线漂移,通过去除基线漂移,去除校正光谱中非目标物质引起的背景信号变化,提高干扰特征吸收峰的识别和定量分析;所述特征提取单元:通过峰值检测算法找到数据预处理后的特征吸收峰的位置和强度,并对光谱进行归一化处理得到突出光谱;所述图谱验证单元:将突出光谱与已知的标准钽锂光谱进行对比,确认特征峰位置和强度是否一致。
技术关键词
识别系统
基线
特征提取单元
校正
数据采集单元
多项式
红外光谱仪
强度
干扰特征
索引
交叉点
图谱
矩阵
数值
算法
符号
光源
晶体
信号