一种芯片测评的方法、装置、设备和存储介质

本申请提供一种芯片测评的方法、装置、设备和存储介质，涉及智能芯片测评技术领域。一种芯片测评的方法，包括：设置待测芯片的测评指标，测评指标包括性能测评指标、可用性测评指标和/或性价比评估指标；基于测评指标执行相对应的测评任务；获取测评任务的执行结果，以进行待测芯片的评估。根据本申请的实施例，可从多维度对芯片进行全面测试和分析。