摘要
本发明涉及芯片技术领域,尤其涉及一种基于IPC的软硬件联调方法、电子设备和介质,方法包括步骤S1、获取N个需要并行在待测芯片设计上运行的软件测试用例集;步骤S2、为每一An分配对应的进程组(B1n,B2n),基于IPC协议为每一进程组分配对应的交互标识Pn;步骤S3、并行启动所有B1n,每一B1n开始执行对应的An,同时芯片RTL代码进行芯片初始化操作,B1n基于对应的An生成An对应的寄存器配置指令,进入等待状态;步骤S4、待测芯片设计完成芯片初始化操作之后,B1n、B2n基于对应的Pn进行进程间通信,将An运行在待测芯片设计上。本发明降低了软件测试用例跨阶段验证成本,提高了芯片验证效率。
技术关键词
待测芯片
软件测试用例集
门铃
联调方法
进程
计算机可执行指令
接口
内存
参数
数据
标识
编程
电子设备
芯片验证
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