一种位移测量系统

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一种位移测量系统
申请号:CN202510295145
申请日期:2025-03-13
公开号:CN119984052A
公开日期:2025-05-13
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种位移测量系统。其中,包括:激光器、集成芯片和控制模块;集成芯片中包括光波导结构、分束模块和光信号调制模块;激光器用于出射检测光束至光波导结构;分束模块设置在光波导结构中且在检测光束的传播路径上;光信号调制模块设置在光波导结构中且在参考光束的传播路径上;控制模块与光信号调制模块通信连接。本发明的技术方案,通过在集成芯片中设置光波导结构、分束模块和光信号调制模块,使得检测光束入射集成芯片中进行光信号的处理,再配合控制模块,形成了一个低成本小型化的位移测量系统,同时由于光传输均在光波导结构中,提高了位移测量系统的可靠性和精度。
技术关键词
光束 光信号调制 光波导结构 集成芯片 信号调制模块 待测物体 控制模块 模数转换器 激光器 平衡探测器 热沉结构 数据传输模块 控制单元 电路板 准直透镜 聚焦透镜 解调器
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