一种X射线图像的缺陷识别方法、装置、设备及存储介质

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正文
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一种X射线图像的缺陷识别方法、装置、设备及存储介质
申请号:CN202510295414
申请日期:2025-03-13
公开号:CN120339178A
公开日期:2025-07-18
类型:发明专利
摘要
本发明公开一种X射线图像的缺陷识别方法、装置、设备及存储介质,方法包括获取X射线图像;对所述X射线图像进行图像增强,得到X射线增强图像;调用识别模型识别所述X射线增强图像,以输出具有缺陷分割区域的目标图像,所述识别模型预先训练,所述缺陷分割区域基于目标框标识,不同缺陷类型对应不同目标框标识。本方案通过将预先训练的识别模型导入到图像处理系统中,在系统中一次性完成X射线图像的获取、识别以及结果的直接输出,提高了X射线图像的缺陷识别效率和准确率。
技术关键词
缺陷识别方法 深度学习模型 缺陷预测 标注工具 图像增强 数据 上采样 融合特征 样本 图像处理系统 标识 电子设备 可读存储介质 图像缩放 存储器 识别装置 处理器 指令
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