一种DDR5内存芯片自动化筛选方法

本发明涉及半导体筛选技术领域,公开了一种DDR5内存芯片自动化筛选方法，包括以下步骤：S1、数据采集：通过自动化测试平台采集每批次DDR5内存芯片的频率、电压、时序和功耗的测试数据；S2、芯片特性建模：根据采集的测试数据建立每批次芯片的特性模型；S3、多目标优化：根据测试数据构建多个目标函数，对频率误差、电压误差、时序误差和功耗进行多目标优化，得到Pareto最优解；S4、参数自动调整。本发明通过多目标优化、非线性建模、贝叶斯推理和模糊控制，实现了芯片筛选过程的精确化和自动化，显著提高了筛选精度和效率，确保芯片在高负载和特殊应用环境下的性能一致性和稳定性。