全张量磁梯度探头的误差校正方法、系统、设备及介质

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全张量磁梯度探头的误差校正方法、系统、设备及介质
申请号:CN202510298603
申请日期:2025-03-13
公开号:CN120178113B
公开日期:2025-09-23
类型:发明专利
摘要
本申请提供一种全张量磁梯度探头的误差校正方法,所述方法包括:获取全张量磁梯度探头的芯片误差数据;所述芯片误差数据包括全张量磁梯度探头的全张量磁梯度和平面梯度计的梯度;所述全张量磁梯度探头设置有至少一所述平面梯度计;各所述平面梯度计设置有所述芯片;根据所述全张量磁梯度和各所述平面梯度计的梯度获取各所述平面梯度计的误差角度;根据各所述平面梯度计的误差角度对所述全张量磁梯度进行芯片角度误差校正,获取校正后的全张量磁梯度。本申请通过全张量磁梯度探头的全张量磁梯度和各平面梯度计的梯度对比的方式,获得各平面梯度计的误差角度,从而完成了全张量磁梯度探头芯片角度误差的校正,提高了全张量磁梯度数据的准确性。
技术关键词
误差校正方法 探头 牛顿迭代法 方程 芯片 基线 误差校正系统 电子设备 数据 存储计算机程序 信号发生器 功率放大器 校正模块 存储器 线圈 参数 可读存储介质
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