一种基于生成对抗网络的缺陷图像生成方法、设备及介质

本发明公开了一种基于生成对抗网络的缺陷图像生成方法、设备及介质。所述方法包括：通过改进SAGAN网络生成芯片的缺陷轮廓图像；输入待生成的无缺陷图像和缺陷轮廓图像，确定缺陷轮廓图像在无缺陷图像中的位置，对无缺陷图像进行裁剪，得到裁剪后的无缺陷图像，对裁剪后的无缺陷图像进行提取，得到缺陷轮廓的待生成图像；将缺陷轮廓的待生成图像输入图像生成网络中，得到缺陷差分图并与裁剪后的无缺陷图像进行差分，得到局部缺陷图像；对局部缺陷图像进行评估，将符合预设评分的局部缺陷图像映射回原始的无缺陷图像中，得到最终的生成缺陷图像。本发明能够解决存储芯片缺陷样本难以获取以及像素级标注成本高的问题。