一种高密度QFN封装引线框架及其制造方法

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正文
推荐专利
一种高密度QFN封装引线框架及其制造方法
申请号:CN202510299644
申请日期:2025-03-14
公开号:CN120164870A
公开日期:2025-06-17
类型:发明专利
摘要
本发明提供了一种高密度QFN封装引线框架及其制造方法,涉及QFN封装技术领域,包括框架基体,框架基体的中央位置设置有方形基岛,方形基岛的四个角均连接有连接脚,方形基岛通过连接脚与框架基体相连接,连接脚上设置有半蚀刻方框一,基岛中央设置有芯片,芯片周侧设置有半蚀刻凹槽,基岛上设置有若干半蚀刻方框二。本发明通过设置若干半蚀刻方框一和若干半蚀刻方框二,在塑封时,可以有效增加塑封料与框架基体的接触面积,塑封料与框架基体的连接更加稳定,而设置半蚀刻凹槽,当芯片粘接到方形基岛上时,可以有效对可能溢出的胶液进行收集,而如果没有溢胶,半蚀刻凹槽又能够起到连接更稳定的效果。
技术关键词
封装引线框架 涂胶箱 高密度 蚀刻 滑动楔块 直线驱动 移动块 基体 方形 管脚 工作箱 QFN封装技术 伸缩软管 粘接机构 旋转杆 推动板 芯片
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