芯片设计指标生成模型训练方法、装置和计算机设备

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推荐专利
芯片设计指标生成模型训练方法、装置和计算机设备
申请号:CN202510301467
申请日期:2025-03-14
公开号:CN119808705B
公开日期:2025-06-17
类型:发明专利
摘要
本申请涉及一种芯片设计指标生成模型训练方法、装置和计算机设备。所述方法包括:获取物理设计参数配置集合;将各物理设计参数配置分别输入至布局分析工具、时钟树分析工具和布线分析工具,得到芯片设计指标;根据芯片设计指标,生成新的物理设计参数配置和新的物理设计参数配置集合;返回执行将各物理设计参数配置分别输入至布局分析工具、时钟树分析工具和布线分析工具的步骤,直至任一物理设计参数配置对应的芯片设计指标满足预设指标要求,得到目标芯片设计指标;根据目标芯片设计指标以及对应的物理设计参数配置,确定训练样本,并利用训练样本训练芯片设计指标生成模型。采用本方法能够提高芯片设计的效率。
技术关键词
分析工具 物理 时钟树 参数 指标 芯片 生成模型训练方法 配置搜索空间 布局 布线 计算机设备 模型训练装置 时序裕量 计算机程序产品 处理器 分析模块 可读存储介质 存储器 图像
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