摘要
一种压接IGBT模块热分布设计方法及装置,属于压接IGBT模块设计技术领域,包括如下步骤:获取各个子模块在各个单独发热状态时的芯片温度;获取IGBT单元及FRD单元的个数,并根据IGBT单元及FRD单元的个数,获得子模块的各种分布情况;根据各个子模块在各个单独发热状态时的芯片温度,计算与分布情况对应的各个IGBT单元的芯片温度;根据与分布情况对应的各个IGBT单元的芯片温度,计算各种分布情况下的IGBT温差因子,根据各种分布情况下的IGBT温差因子,获得最优子模块分布情况。本申请通过计算与分布情况对应的各个IGBT单元的芯片温度,从而使得用户可以计算其所需的最优子模块分布。
技术关键词
IGBT单元
分布设计方法
子模块
芯片
温差
因子
计算机装置
计算机程序产品
处理器
功率
存储器
中子