提升光取出能力的芯片制备方法

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提升光取出能力的芯片制备方法
申请号:CN202510303034
申请日期:2025-03-14
公开号:CN120379411A
公开日期:2025-07-25
类型:发明专利
摘要
本发明涉及芯片制备技术领域,具体涉及提升光取出能力的芯片制备方法,在衬底上依次制备外延层、N‑GaN台阶、ITO透明导电层及电极层,还制备PV保护层,所述PV保护层,所述PV保护层包括依次设置的SiO2、SiOF和Na2SiF6,SiO2、SiOF和Na2SiF6的折射率呈递减趋势。本发明利用不同折射率材料在接触的界面会出现反射的现象,通过引入漫反射,让光更多的透射出来从而提高LED的光萃取效率。
技术关键词
ITO透明导电层 芯片 ICP刻蚀技术 MOCVD技术 PECVD设备 电极 外延 磁控溅射设备 P型掺杂剂 多量子阱层 ITO薄膜 三甲基铟 刻蚀方式 蒸镀设备 光刻胶 三甲基铝 二茂镁 刻蚀深度 台阶
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