基于蒙特卡洛原理的两站交会测量精度表征方法及系统
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基于蒙特卡洛原理的两站交会测量精度表征方法及系统
申请号:
CN202510305007
申请日期:
2025-03-14
公开号:
CN120101834A
公开日期:
2025-06-06
类型:
发明专利
摘要
本发明涉及光学测量技术领域,具体提供一种基于蒙特卡洛原理的两站交会测量精度表征方法及系统,结合抽样统计机制,合理应用蒙特卡洛算法,并进行模拟计算,可以有效计算两站方向射线不共面时目标的位置测量误差,严格解算出两站工况不同时的交会测量误差,有效地解决复杂工况下两站测量误差传播定量计算的难点问题,且计算简单,易于实际应用。
技术关键词
位置测量误差
方位角
表征方法
坐标系
测角误差
精度
蒙特卡洛算法
表征系统
射线
连线
直线
工况
转换单元
定义
理论
两点
沪ICP备2023015588号