一种多功能的芯片自动测试设备

本发明属于芯片测试领域，具体涉及一种多功能的芯片自动测试设备，包括有外箱体和传送机构等；外箱体内连接有传送机构。本发明实现了通过限位模具对芯片进行限位，并通过3D扫描仪在移动的过程中多角度的对芯片进行扫描，从而获取完整的3D云点图，快速的检测出歪斜状态的芯片引脚，并能够计算出引脚的平均宽度以及相邻两个引脚的间距，通过使每个压块均移动至芯片上对应的两个引脚之间，并对芯片上的引脚进行挤压，同时通过每个压块上的拨片对相邻的两个引脚进行挤压，且由于直板的宽度与芯片上相邻的两个引脚的间距相等，通过直板对相邻的两个引脚进行限位，从而实现对芯片上的引脚进行正位，使得每相邻的两个引脚的间距保持一致。