一种基于单张投影的X射线静态快速多衬度信号解析方法

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推荐专利
一种基于单张投影的X射线静态快速多衬度信号解析方法
申请号:CN202510305416
申请日期:2025-03-14
公开号:CN120182230A
公开日期:2025-06-20
类型:发明专利
摘要
本发明提供一种基于单张投影的X射线静态快速多衬度信号解析方法,属于深度学习以及X射线光栅衬度成像技术领域。所述方法包括:获取样品光栅投影;基于Pix2pixHD构建卷积神经网络模型,在损失函数中加入边缘损失,提升网络对于图像边缘细节的恢复能力;训练卷积神经网络模型;使用已训练的卷积神经网络利用单张光栅投影获取到高质量吸收、相位和暗场投影。本发明利用卷积神经网络强大的信息提取能力,实现单张投影的多衬度成像,相较于传统的衬度信号解析方法,能够在降低样品所受辐射剂量的同时,减少衬度成像所需的时间,实现低剂量快速成像。
技术关键词
信号解析方法 X射线光栅 卷积神经网络模型 相位光栅 构建卷积神经网络 积层 上采样 多尺度 采样模块 代表 序列 图像 处理器 周期 X射线源 成像技术 高层次
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