一种液晶面板亮度不均匀缺陷的检测方法和系统

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一种液晶面板亮度不均匀缺陷的检测方法和系统
申请号:CN202510309094
申请日期:2025-03-17
公开号:CN119810112B
公开日期:2025-07-04
类型:发明专利
摘要
本发明涉及液晶面板缺陷检测技术领域,具体公开了一种液晶面板亮度不均匀缺陷的检测方法和系统,使用光度计获取液晶面板在显示模式下的图像,并通过高精度传感器捕捉亮度信息,采用图像分割算法,结合自适应阈值分割、深度学习语义分割和区域生长算法,精确识别并提取亮度不均问题区域,分别对亮度差异程度、空间分布和时间稳定性进行分析,并计算出相应的特征指数,综合这些特征指数,通过标准化计算生成每个亮度不均区域的综合评分,将区域划分为轻微、中等和严重缺陷,本发明结合实时监测,能够动态调整检测时间和参数设置,针对不同类型亮度不均缺陷进行智能检测,优化检测效率和精度,避免冗余检测。
技术关键词
亮度 空间分布特征 指数 表达式 图像分割算法 区域特征分析 区域生长算法 液晶面板缺陷检测 像素 频率 深度学习语义分割 光度计 数据采集模块 阈值分割方法 缩短检测时间 高精度传感器 语义分割网络
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