一种FLASH芯片的测试系统及测试方法

本申请实施例公开了一种FLASH芯片的测试系统及测试方法，应用于电子设备，电子设备包括FLASH芯片；方法包括：获取FLASH芯片的第一测试环境参数；获取FLASH芯片的测试参数和参考测试结果参数；根据第一测试环境参数和测试参数对FLASH芯片进行多次测试，得到多个测试结果参数；根据多个测试结果参数确定第一测试结果参数；确定第一测试结果参数与参考测试结果参数之间的第一偏离度；在第一偏离度处于第一预设范围时，确定FLASH芯片测试合格。采用本申请可以提升FLASH芯片的测试的智能性。