存储芯片的读写功能测试方法、装置、设备和存储介质

本申请公开了一种存储芯片的读写功能测试方法、读写功能测试装置、电子设备和计算机可读存储介质，其中方法包括：获取用户输入的待测存储芯片的测试要求，所述测试要求至少包括以下信息：所述待测存储芯片的存储单元矩阵参数和数据写入模式要求；将所述测试要求嵌入预设的提示词模板，得到测试提示词；将所述测试提示词输入训练好的测试用例生成模型，得到目标测试用例；调用所述目标测试用例执行读写功能测试过程。本申请方案能够根据测试要求自动化生成测试用例，快速适应各种测试场景，显著减少手动编写测试用例的时间和经济成本，从而大幅提升测试效率。