一种测试程序生成方法、装置、电子设备及存储介质

本发明实施例公开一种测试程序生成方法、装置、电子设备及存储介质。其中，所述方法包括：获取测试流程的最小可重复测试单元及其多组扩展条件，其中最小可重复测试单元满足预定义的最小性、可重复性和复杂性条件；根据获取到的多组扩展条件，将对应的最小可重复测试单元扩展为多个测试实例；整合扩展得到的多个测试实例，以生成完整的测试程序。本发明实施例提供的技术方案可适用于半导体芯片测试场景，能够提高测试程序的开发效率和质量，减少人工错误，增强测试程序的可扩展性和一致性。