一种液晶显示屏坏点检测方法及系统

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一种液晶显示屏坏点检测方法及系统
申请号:CN202510324041
申请日期:2025-03-19
公开号:CN119850610B
公开日期:2025-07-08
类型:发明专利
摘要
本申请公开了一种液晶显示屏坏点检测方法及系统,涉及液晶屏检测,包括:根据预设测试方案获取液晶屏的坏点位置区域;根据液晶屏的物理参数,构建液晶屏的物理拓扑模型;采用改进的分水岭算法对坏点位置区域进行分割,得到分割结果;采用预先构建的坏点特征知识库对分割结果进行特征分析,确定坏点名称与坏点诱因,得到检测结果;利用物理拓扑模型,采用基于物理连接路径的流动规则,以使分水岭算法仅沿物理连接路径扩散,得到分割结果;针对现有技术中存在的分水岭算法容易产生过分割现象,从而导致坏点检测精度低,本申请通过利用LCD像素阵列的规则结构,建立物理约束改进分水岭算法,提高了坏点检测精度。
技术关键词
坏点检测方法 分水岭算法 液晶显示屏 液晶屏 像素点 物理 像素排列方式 线路 矩阵 坏点检测系统 数据线 驱动信号 关系 走线结构 布局 坐标 像素阵列 栅极 传输路径
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