一种电源管理芯片测试分析系统

本发明涉及芯片测试技术领域，其公开了一种电源管理芯片测试分析系统，包括数据采集单元、数据处理单元、特征提取单元、性能分析单元、故障诊断单元和结果展示单元，全面采集芯片电压、电流及温度数据，经独特预处理方式，有效滤除干扰，极大提升数据准确性；通过科学的性能指标提取方法，能精准获取芯片多项性能指标；在性能评估环节，与预设阈值对比，可直观判断芯片输出电压稳定性、电流效率及过热风险；故障诊断方面，基于大量已知故障芯片测试构建的数据库，结合匹配分析，能高效判断芯片故障并精准定位；结果展示单元将各项分析结果直观呈现，助力相关人员快速了解芯片状况，及时采取改进、维修或更换措施。