基于非对称干涉的光栅周期一致性测量方法

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基于非对称干涉的光栅周期一致性测量方法
申请号:CN202510331468
申请日期:2025-03-20
公开号:CN120141806A
公开日期:2025-06-13
类型:发明专利
摘要
本发明提供一种基于非对称干涉的光栅周期一致性测量方法,包括:基于剪切差分非对称干涉测量系统,测量光斑质心偏移量;设置光栅参数范围,初始化粒子群位置以及粒子速度,每个粒子代表一组候选光栅参数;以光斑质心偏移量为输入、以光栅周期为输出,计算光学响应,得到对应不同光栅周期的多个粒子;对每个粒子计算适应度,更新每个粒子的自身历史最优和群体中所有粒子的全局最优,迭代更新粒子的速度与位置;达到预设的最大迭代次数,输出全局最优光栅周期一致性参数。本发明将剪切差分非对称干涉应用于光栅周期一致性测量中,非对称干涉与光栅周期反演算法相结合,具有高精度、非破坏、快速且低成本的测量优势。
技术关键词
质心偏移量 光栅 测量方法 粒子 双折射晶体 周期 偏振片 分光镜 光斑 氦氖激光器 摄像机镜头 偏振棱镜 偏振光 速度 反演算法 参数 水冷方式 束腰
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