一种提高FPGA动态老炼测试覆盖率的系统及方法

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一种提高FPGA动态老炼测试覆盖率的系统及方法
申请号:CN202510332115
申请日期:2025-03-20
公开号:CN120214549A
公开日期:2025-06-27
类型:发明专利
摘要
本发明提供了一种提高FPGA动态老炼测试覆盖率的系统及方法。该系统包括PC上位机、设备主控FPGA芯片即FPGA0、n块被测FPGA芯片、n个Flash存储器、微控制器MCU,其中n为大于1的整数,所述PC上位机与FPGA0连接进行通信,在线加载被测FPGA芯片内不同功能老炼测试的配置程序;所述FPGA0与n块被测FPGA芯片连接,将PC上位机下发的加载配置文件内容写入到被测FPGA芯片中,完成被测FPGA芯片的在线加载配置。本发明能够在老炼过程中实时更新老炼测试程序并同时完成多个FPGA的配置,提高动态老炼测试覆盖率和加载效率,具有较强的灵活性,能够广泛应用于不同的FPGA动态老炼测试场景。
技术关键词
动态老炼 测试覆盖率 FPGA芯片 PC上位机 芯片老炼测试 板卡控制 在线 SPI模式 程序 LVDS连接线 界面 功能模块 微控制器 静态随机存储器 上位机软件 控制板卡 印制电路板
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