芯片平台的重复性定位精度的测试方法及设备

本公开提供了一种芯片平台的重复性定位精度的测试方法及设备，该方法包括：控制芯片平台与成像设备之间沿水平方向进行往复多次的相对移动，并在每次相对移动到相同的目标位置后，控制成像设备对标定板进行拍照，获得多帧目标图像；从多帧目标图像上选取感兴趣区域；感兴趣区域包括目标标记区域和背景区域；针对多帧目标图像中的感兴趣区域，根据感兴趣区域中的至少部分像素点的强度值识别感兴趣区域中的目标标记区域和背景区域之间形成的分界线位置；根据从多帧目标图像中的感兴趣区域识别出的分界线位置，确定芯片平台与成像设备之间相对移动时的重复性定位精度。