基于数字测试设备的功率驱动芯片自动化测试系统与方法

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正文
推荐专利
基于数字测试设备的功率驱动芯片自动化测试系统与方法
申请号:CN202510342567
申请日期:2025-03-21
公开号:CN120161322A
公开日期:2025-06-17
类型:发明专利
摘要
本发明涉及集成电路测试技术领域,具体提供了一种基于数字测试设备的功率驱动芯片自动化测试系统与方法,所述系统包括设备层和数据管理层,所述设备层包括上位机、数字测试设备、测试夹具;所述数据管理层包括测试项目计划模块、数据采集与处理模块、包括测试报告生成模块;所述方法包括:S1、搭建测试环境;S2、测试产品输出功率;S3、测试产品转换效率;S4、测试产品输出信号的波形变化;S5、测试产品结温;S6、生成测试报告;本发明采用上位机配合数字测试设备能够实现自动化测试,显著提高测试效率,保证测试结果的一致性;测试完成后能够提供强大的数据分析和报告生成功能,为芯片性能评估和质量控制提供有力支持。
技术关键词
功率驱动芯片 数字测试设备 自动化测试系统 环境试验箱 数字式示波器 热阻 自动化测试方法 测试夹具 生成测试报告 数字式电流表 数字式电压表 通信接口 搭建测试环境 热电偶 集成电路测试技术 自动化测试软件 效应 电子负载 分析测试数据 热平衡原理
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