一种基于LVDT位移传感器的多自由度测长仪及其曲面测量方法

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一种基于LVDT位移传感器的多自由度测长仪及其曲面测量方法
申请号:CN202510344786
申请日期:2025-03-21
公开号:CN120194599A
公开日期:2025-06-24
类型:发明专利
摘要
本发明提供一种基于LVDT位移传感器的多自由度测长仪及曲面测量方法,属于精密测量领域。装置由基座、直线电机驱动的测量座、滑动载物台、尾座及测头组件构成,固定测头与LVDT测头分置于尾座/测量座,结合光栅尺实时反馈位移。计算机通过单片机集成控制电机动子、载物台Y/Z轴及传感器,构建闭环系统。其创新在于融合LVDT非接触监测与光栅尺数据,单次进给即可完成多点连续测量,并通过位移变化率动态调姿,实现曲面拐点快速定位。该方法突破传统多次装夹、人工寻点限制,显著提升复杂曲面测量效率,适用于精密机械加工检测,为曲面轮廓自动化测量提供高效解决方案。
技术关键词
LVDT位移传感器 光栅尺读数头 LVDT传感器 测长仪 测头 曲面测量方法 直线电机动子 Z轴驱动机构 Y轴驱动机构 联动微调 齿轮减速传动装置 电脑主机 滑动载物台 光栅尺数据 Z轴传动机构 尾座 PID控制算法
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