基于双光梳时空编码的图案化晶圆缺陷检测系统及方法

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基于双光梳时空编码的图案化晶圆缺陷检测系统及方法
申请号:CN202510345084
申请日期:2025-03-24
公开号:CN119901754B
公开日期:2025-06-24
类型:发明专利
摘要
本发明公开一种基于双光梳时空编码的图案化晶圆缺陷检测系统及方法,系统包括:双光梳光源模块、空间编码照明模块、时间编程控制模块、信号采集处理模块及数据分析处理模块,数据分析处理模块接收待测晶圆表面的复原三维形貌信息并进行分析,提取缺陷相关特征,建立光谱特征与缺陷之间的映射关系,对晶圆表面缺陷进行识别得到相应的缺陷种类和位置信息。本发明采用基于双光梳时空编码的晶圆缺陷检测技术,利用双光梳干涉技术实现快速扫描和并行探测,大幅提高检测效率,本发明能够获得晶圆表面的绝对距离信息,将此结果反馈给精密气浮运动平台可以省去自动对焦光路系统及反馈控制部分,提高检测效率,降低整个晶圆检测系统的体积、复杂度和成本。
技术关键词
晶圆缺陷检测系统 编码 时间延时 信号 分束器 晶圆表面缺陷 耦合单元 精密运动控制 系统缺陷 相控阵 编程 闪耀光栅 空间光 距离信息 载波包络偏移频率 鉴相器 晶圆缺陷检测方法 光源模块 预训练模型
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