一种微波光子链路测试方法及装置

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一种微波光子链路测试方法及装置
申请号:CN202510349533
申请日期:2025-03-24
公开号:CN120200670B
公开日期:2025-10-14
类型:发明专利
摘要
本发明涉及链路测试领域,公开了一种微波光子链路测试方法及装置,通过连接器与服务器基板管理控制器连接,接收服务器基板管理控制器下发的第一控制信号和/或第二控制信号;控制器接收第一控制信号,并经由连接器返回第一反馈信号至服务器基板管理控制器进行信号检测;硬件接口分别与连接器以及外接硬件连接,用于接收连接器下发的第二控制信号至对应的外接硬件,并经由连接器返回第二反馈信号至服务器基板管理控制器进行信号检测,从而实现将本发明的微波光子光纤传输链路测试装置来替代HGX平台GPU模组进行微波光子光纤传输链路测试,在覆盖原有链路的情况下,显著降低测试成本,且有效保证了数据在服务器和交换机之间传递的信号完整性。
技术关键词
光子光纤 基板管理控制器 链路测试方法 微波 链路测试装置 服务器 传感器芯片 导通工装 信号 印刷线路板 接口 节点 传输线 交换机 级联 模组 损耗
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