一种电子束选区熔化成形TiAl合金熔合不良缺陷抑制方法

本发明公开了一种电子束选区熔化成形TiAl合金熔合不良缺陷抑制方法，该方法包括：一、建模后切层得到二维切片；二、设计各二维切片的扫描路径均采用相互平行、间距相等的平行扫描线，且相邻二维切片的扫描路径的中心线错位；三、成形基板预热后铺设TiAl合金粉末；四、粉末预热；五、扫描熔化形成单层实体沉积层，成形基板下降；六、依次重复铺粉、预热、扫描及熔化、成形基板下降工艺成形得到TiAl合金。本发明通过控制相邻二维切片的扫描路径的中心线错位，使得层间平行扫描线错位堆叠填充成形间隙，从而抑制熔合不良缺陷，获得高致密度的TiAl合金，无需热等静压等工序消除缺陷，适用于TiAl合金的增材制备领域。