一种失效物理贝叶斯融合的电子设备可靠性预计方法

本发明公开了一种失效物理贝叶斯融合的电子设备可靠性预计方法，涉及电子设备可靠性预测领域，包括收集各个电子设备失效单元的失效物理模型参数，通过失效机理分析确立失效物理模型；对电子设备失效单元进行可靠性参数计算，获得失效物理预测值；基于电子设备可靠性预计手册进行可靠性分析，获得电子设备失效单元的失效率，并计算各失效单元的平均无故障工作时间；使用贝叶斯公式进行系统层面可靠性分析，获得系统失效率和系统平均故障时间，完成失效物理贝叶斯融合的电子设备可靠性预计。本发明解决了现有技术中对电子设备可靠性进行预测时，难以同时兼顾失效物理机理与实际试验数据、以及缺乏动态修正能力所导致的预测不准确等问题。