用于芯片系统级测试的方法和装置、电子设备

本发明公开了用于芯片系统级测试的方法和装置、电子设备。该方法包括：由测试主板对与其连接的至少一个被测子板进行上电；由被测子板根据设定测试过程进行测试，以生成测试数据；由被测子板将测试数据传送给测试主板，使得测试主板上的测试数据被上位机解析得到测试结果。本发明技术方案中的测试主板只负责被测子板的上下电控制，整个系统级测试的执行均由被测子板自运行，即使被测芯片数量众多，也能够节省单片测试时间，且避免了测试主板的主控芯片负载过重，且上位机直接获取测试主板上的被测子板的测试数据，解析得到测试结果，从而有效提高系统级测试效率。