一种芯片固件测试方法、装置、设备及介质

本发明公开了一种芯片固件测试方法、装置、设备及介质，涉及固件测试领域，包括：宿主机利用公共静态打桩代码文件对芯片固件的原始代码文件进行静态打桩以得到第一中间代码文件，然后整合其与动态打桩工具的代码文件以得到基础库代码文件；利用与芯片固件中的任一模块对应的私有静态打桩代码文件，对基础库代码文件中与任一模块对应的模块代码文件进行静态打桩以得到第二中间代码文件，然后链接其与任一模块对应的测试代码文件和动态打桩代码文件，以得到用于测试任一模块的可执行程序；运行可执行程序以通过对第二中间代码文件中与任一模块对应的模块代码文件进行动态打桩，从而在减少打桩代码开发工作的情况下，通过宿主机实现芯片固件测试。