一种IC芯片自动测试机及其测试方法

本发明属于芯片测试技术领域，尤其涉及一种IC芯片自动测试机及其测试方法，包括测试机本体，所述测试机本体的顶部左右位置对称安装有两个Y轴轨道，两个所述Y轴轨道的顶部沿前后方向滑动安装有X轴轨道，所述X轴轨道的前侧安装有固定板。本发明通过设有支撑弹簧，在橡胶吸头上的吸盘完成对芯片的吸取操作后，传送带能够带动芯片向上移出芯片托盘，而随着芯片从芯片托盘中移出，支撑弹簧能够逐渐伸长，从而通过支撑杆推动底部的金属片向下移动并复位，而随着底部金属片的复位，橡胶吸头也随之一起完成复位，从而避免了橡胶吸头因长时间的挤压操作而产生形变，保证橡胶吸头对芯片的吸取效果。