二值化图像生成方法、缺陷检查方法和程序

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推荐专利
二值化图像生成方法、缺陷检查方法和程序
申请号:CN202510362740
申请日期:2025-03-26
公开号:CN120725908A
公开日期:2025-09-30
类型:发明专利
摘要
提供了一种能够在提取候选缺陷区时抑制噪声的过检测的二值化图像生成方法。一种生成对象物的二值化图像的二值化图像生成方法,其中,该二值化图像生成方法针对对象物的图像中的每个像素执行:基于目标像素周围的像素的亮度值来计算基准值的基准值计算步骤;通过将特定常数乘以基准值来计算缺陷候选区提取阈值的缺陷候选区提取阈值计算步骤;设置阈值的过检测减少阈值设置步骤;以及确定目标像素的亮度值是否高于缺陷候选区提取阈值和过检测减少阈值两者的阈值比较步骤,并且然后执行生成对象物的二值化图像的二值化图像生成步骤,其中,图像被二值化为两个区:由亮度值大于或等于两个阈值的像素组成的一个区以及另一个区。
技术关键词
图像生成方法 缺陷检查方法 非暂时性记录介质 像素 亮度 对象 特征值 程序 计算机 噪声 数值
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