一种基于测试芯片的多源异构数据处理方法及系统

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一种基于测试芯片的多源异构数据处理方法及系统
申请号:CN202510363233
申请日期:2025-03-26
公开号:CN120296210A
公开日期:2025-07-11
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种基于测试芯片的多源异构数据处理方法及系统,方法包括:采用分布式消息队列实时接入多协议数据流,采集芯片测试相关的多源异构数据,进行归一化的预处理;对预处理后的多源异构数据进行跨域时空特征的对齐和映射,并基于线性关联度和非线性关联度构建混合关联矩阵,提取三维联合特征,生成动态元数据标签;利用关联矩阵和提取的三维联合特征生成节点和边,构建参数关联图结构,进行图嵌入训练并生成索引结构,利用查询特征和标签基于索引结构定位Top‑K候选,按综合距离排序返回结果;本发明解决了现有芯片测试产生的多源异构数据格式差异较大,导致很难进行跨域关联分析的问题,提升了多源异构数据处理的精度和效率。
技术关键词
异构数据处理方法 动态元数据 芯片 生成索引结构 标签 分布式消息队列 多模态特征融合 参数 异构数据处理系统 多源异构数据 节点 非线性 封装打线工艺 机械耦合模型 在线标定系统 查询特征
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