一种内置RRAM微控制器的筛选测试方法及系统

本发明属于芯片筛选测试技术领域，具体涉及了一种内置RRAM微控制器的筛选测试方法及系统，旨在解决现有筛选测试效率低的问题。本发明编程功能测试使用编程器验证多频率波特率条件下编程模块功能；字节读测试使用编程器向片内RRAM写入特定码型组，在EEPROM存储器中写入指令读取程序，将片内RRAM所有地址位进行多次读出并对比理论结果；比特读测试运行编程器向片内RRAM写入物理码型组并进行读出验证；功能测试运行编程器向片内RRAM写入功能向量组，进行多次执行并对比理论结果；所有测试流程均通过，则判定当前测试的微控制器为合格品。本发明可以对内置RRAM微控制器芯片读写功能和基本功能进行快速筛选。