防止过漏检的缺陷检测方法及电子设备

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防止过漏检的缺陷检测方法及电子设备
申请号:CN202510366952
申请日期:2025-03-26
公开号:CN120374513A
公开日期:2025-07-25
类型:发明专利
摘要
本公开实施例公开了一种防止过漏检的缺陷检测方法及电子设备,通过获取工业图像样本,其中,工业图像样本是由多个工位进行图像采集得到的,对工业图像样本进行分类,得到图像分类结果,其中,图像分类结果用于指示工业图像样本为有缺陷图像样本或者无缺陷图像样本,基于有缺陷图像样本对有监督模型进行训练,基于无缺陷图像样本对无监督模型进行训练,获取待检测工业图像,根据训练后的有监督模型以及无监督模型对待检测工业图像进行缺陷检测,得到缺陷检测结果,能够有效降低过检率和漏检率,提升缺陷检测的准确性。
技术关键词
缺陷检测方法 样本 通用型 无监督模型 检测工业 条纹投影图像 工位 条纹图案 知识蒸馏技术 标签 线条 电子设备 对象 参数 检测台 存储器 处理器
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