一种材料样品的平均原子序数检测方法、系统、介质、设备及产品

本发明公开了扫描电子显微镜检测技术领域的一种材料样品的平均原子序数检测方法、系统、介质、设备及产品，旨在解决现有检测技术的优化问题。方法包括：对获取到的待测材料样品的背散射电子图像进行图像预处理，得到处理后图像；利用训练好的聚类模型，对所述处理后图像进行图像分割，得到待测材料样品区域；计算所述处理后图像的待测材料样品区域的平均灰度值；将所述处理后图像的待测材料样品区域的平均灰度值，输入到拟合好的指数模型，得到待测材料样品的预测平均原子序数。本发明能高效便捷的实现材料元素及其分布状态的表征，适用于各种不带磁性的单质、化合物和混合物的分析检测。