基于测试设备的存储芯片个性化修复方法

本发明涉及芯片测试技术领域，具体公开了基于测试设备的存储芯片个性化修复方法，包括：分别获取每颗存储芯片在CP前段测试阶段以及FT后段测试阶段的失效单元电路集合；分别构建失效单元电路集合对应的邻接矩阵，并计算并集，再进行分割得到数据特征集合；对数据特征集合进行聚类分析，提取失效单元分布衍化规则，构建衍化规则库；计算滑动窗口中的失效单元分布和衍化规则元矩阵之间的皮尔逊相关分析，得到衍化分析的失效单元，并将该失效单元加入稀疏失效单元集合中进行正常出解分析，根据芯片冗余资源是否满足预设出解条件判断芯片是否为良品。本发明能够一定程度解决不稳定稀疏单元的问题，增加存储芯片良率。