一种用于芯片测试的温度监控装置、方法及系统

本发明实施例公开一种用于芯片测试的温度监控装置、方法及系统，涉及集成电路技术领域，能够配合自动化分类机对测试中的芯片温度进行有效控制，即使自动化分类机暂停或故障，也不会使被测芯片温度失控。该装置包括：温度采集模块，被配置为采集被测芯片在测试中的芯片温度；控制模块，被配置为从温度采集模块获取芯片温度并对芯片温度进行预处理，根据预处理结果进行控制操作；其中，控制操作包括以下至少一种：向自动化分类机发送目标温度，以使自动化分类机根据目标温度对被测芯片进行温度控制，目标温度与芯片温度相关；向预设对象发送测试终止指示信息，以使预设对象终止芯片测试。本发明可用于芯片测试中。